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HC133B 投入式液位计注意事项
食品、制药行业的CIP清洗流程通常使用高压水柱（压力可达数MPa）对容器内壁和仪表表面进行冲洗。当高压水柱直接冲击感压膜片时，瞬时冲击力可能远超膜片的设计承压极限，导致膜片发生塑性变形甚至穿孔。即使膜片未立即损坏，反复的高压冲击也会使膜片弹性特性逐渐劣化，零点漂移增大，精度持续下降。
陶瓷膜片虽然硬度高，但脆性大，高压冲击下容易产生微裂纹，裂纹扩展后导致膜片碎裂。金属膜片韧性较好，但高压冲击可能造成膜片凹陷变形，改变其弹性曲线，使输出特性偏离校准曲线。
此外，高压冲洗时水流可能将容器底部的固体颗粒（如原料残渣、清洗剂结晶）冲起，这些颗粒随高速水流撞击膜片表面，造成磨蚀损伤。长期磨蚀使膜片表面粗糙度增大，不仅影响测量精度，还容易滋生细菌，不符合卫生级要求。
防护措施包括：在CIP冲洗前将探头提出液面或移至冲洗盲区；选用带冲洗保护帽的卫生型探头，保护帽在冲洗时遮挡膜片；或改用顶部安装的雷达液位计，避免冲洗冲击。
HC133B 投入式液位计注意事项
产品特点
结构简单：无任何可动或弹性元件，因此呆靠性*，维护量极少。
安装方便：内装式结构尤其显示出这一特点，无需任何专用工具。
调整方便：零位、量程两个电位器可在液位检测有效范围内任意进行零点迁移或量程的改变，两个调整互不影响。
用途广泛；适用于高温高压、强腐蚀等介质的液位测量。
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